顆粒跟蹤分析儀中納米技術(shù)的應用

納米系列顆粒跟蹤分析儀所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運動(dòng)成為現代的分析手段。自動(dòng)校準和自動(dòng)聚焦功能，讓用戶(hù)眼見(jiàn)為實(shí)，更加直觀(guān)人性化。通過(guò)子體積的掃描，來(lái)自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來(lái)。此外，顆粒濃度也可以通過(guò)視頻計數分析得到。

顆粒跟蹤分析儀全自動(dòng)和無(wú)源穩定性：自動(dòng)校準程序會(huì )持續工作，即便是樣品池被取出后。防震動(dòng)設計提高了視頻圖像的穩定性。通過(guò)掃描多個(gè)子體積并進(jìn)行平均，就可以得到可靠的統計結果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個(gè)插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。平移擴散常數可通過(guò)直接觀(guān)測待測顆粒的布朗運動(dòng)計算得到。通過(guò)測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。
 
顆粒跟蹤分析儀中動(dòng)態(tài)光散射：所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù)，都存在一個(gè)問(wèn)題：當顆粒大小低于100nm時(shí)，靈敏度會(huì )迅速的降低。動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的zui低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其zui低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區別就在于濃度范圍。對于DLS，當樣品濃度太低時(shí)，zetaview可以非常圓滿(mǎn)的完成檢測任務(wù)。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會(huì )非常的適合。

顆粒跟蹤分析儀又稱(chēng)為顆粒計數器，是依據標準相關(guān)規定，采用光阻法(遮光法)原理研制，用于檢測液體中固體顆粒的大小和數量,可廣泛應用于航空航天、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機械、汽車(chē)制造等領(lǐng)域，對液壓油、潤滑油、變壓器油(絕緣油)、汽輪機油(透平油)、齒輪油、發(fā)動(dòng)機油、航空煤油、水基液壓油等油液進(jìn)行固體顆粒污染度檢測，及對有機液體、聚合物溶液進(jìn)行不溶性微粒的檢測。